Comment Fonctionne la Microscopie Metallurgique

Comme les echantillons opaques ne transmettent pas la lumiere, un microscope metallurgique eclaire l’echantillon par le dessus a travers l’objectif lui-meme, et forme une image a partir de la lumiere reflechie par la surface polie. Les caracteristiques de surface comme les joints de grains, les inclusions, la porosite et les couches de revetement creent un contraste par des differences de reflectivite, la preparation de l’echantillon impliquant generalement decoupe, enrobage, ponçage et polissage jusqu’a une surface plane et reflechissante, souvent suivie d’une attaque chimique pour reveler la microstructure.

Applications Courantes

La microscopie metallurgique est l’outil standard pour examiner la microstructure des metaux et alliages en controle qualite et analyse de defaillance, l’examen de mineraux et de minerais en exploitation miniere et geologie, et l’inspection de semi-conducteurs (silicium brut, plaquettes et circuits integres). Elle est aussi utilisee pour les ceramiques, composites ceramiques, polymeres, charbon, et une large gamme d’autres materiaux opaques incluant peinture, papier, bois, cuir et inclusions de verre, partout ou une surface doit etre caracterisee en lumiere reflechie plutot qu’en lumiere transmise.

Choisir Entre les Series

Le modele metallurgique de la serie B-380 combine l’eclairage transmis et incident X-LED3 via le meme condenseur, offrant fond clair, oblique et lumiere polarisee simple sur echantillons opaques dans une configuration compacte. La serie B-510 separe les deux trajets lumineux pour plus de capacite : le B-510MET est un modele uniquement incident construit autour de la source X-LED8 plus puissante, adapte aux laboratoires travaillant exclusivement avec des echantillons opaques, tandis que le B-510METR ajoute un trajet complet en lumiere transmise avec son propre condenseur escamotable, permettant au meme statif d’examiner des echantillons metallographiques opaques et des lames minces transparentes sans changer d’instrument.

Differences au Sein de Chaque Serie

Les trois modeles utilisent des objectifs IOS W-PLAN MET sans lamelle, concus specifiquement pour l’observation directe d’echantillons metallographiques polis sans lamelle couvre-objet. Le B-383MET atteint 500x avec une hauteur maximale d’echantillon de 15 mm. Les B-510MET et B-510METR incluent tous deux un polariseur avec analyseur rotatif a 360 degres pour la lumiere oblique et polarisee simple sur echantillons opaques ; le trajet transmis supplementaire du B-510METR prend aussi en charge le fond clair, le contraste de phase, le fond noir et la polarisation sur echantillons transparents, au prix d’une hauteur maximale d’echantillon legerement inferieure (31 mm contre 33 mm sur le B-510MET) pour accueillir le condenseur supplementaire.