Optika B-383MET microscope trinoculaire métallurgique, 500x, IOS PLAN MET
€2.249,00 hors TVA
Le Optika B-383MET est un microscope métallurgique trinoculaire pour l analyse d échantillons opaques en lumière réfléchie et transmise. Il est équipé d objectifs IOS W-PLAN MET sans lamelle de 4x à 50x, concus pour les échantillons métallographiques nécessitant une observation directe sans lamelle couvre-objet. L éclairage X-LED3 exclusif couvre les trajets lumineux transmis et incident, avec des filtres polariseur et analyseur pour le travail en lumière incidente. La platine accepte des échantillons jusqu à 15 mm de hauteur. Il convient à la science des matériaux, la métallographie et le contrôle qualité industriel.
Microscope Métallurgique Trinoculaire pour l Analyse en Lumière Réfléchie et Transmise
Le Optika B-383MET est conçu pour observer des échantillons qui restent opaques même à une epaisseur microscopique, comme les métaux, les minerais, les ceramiques et les polymeres. Il associe des objectifs IOS W-PLAN MET sans lamelle à un éclairage X-LED3 sur les trajets lumineux transmis et incident, avec des filtres polariseur et analyseur pour l analyse en lumière incidente.
- Objectifs IOS W-PLAN MET concus pour un usage sans lamelle couvre-objet
- Éclairage X-LED3 combine transmis et incident
- Filtres polariseur et analyseur pour la métallographie en lumière incidente
- La platine accepte des échantillons jusqu à 15 mm de hauteur
- Adapté à la science des matériaux, la métallographie et le contrôle qualité industriel
Optika B-383MET Microscope Métallurgique Trinoculaire
Le Optika B-383MET est un microscope métallurgique trinoculaire de la série B-380, conçu pour la microscopie en lumière réfléchie d échantillons opaques comme les métaux, les minerais et les ceramiques. Les objectifs IOS W-PLAN MET sont concus pour un usage sans lamelle couvre-objet, et l éclairage X-LED3 couvre les trajets lumineux transmis et incident.
Objectifs IOS W-PLAN MET Sans Lamelle
La série d objectifs couvre 4x, 10x, 20x et 50x, specifiquement concue pour la microscopie sans lamelle couvre-objet, ideale pour les échantillons métallographiques et autres échantillons opaques.
Éclairage Combine Transmis et Incident
L éclairage X-LED3 couvre les trajets lumineux transmis et incident avec un contrôle manuel de la luminosité, et les filtres polariseur et analyseur soutiennent la métallographie en lumière incidente.
Platine pour Échantillons Métallographiques Massifs
La platine mécanique double couche de 233×147 mm accepte des échantillons jusqu à 15 mm de hauteur, avec une course X-Y de 78×54 mm.
Mise au Point Coaxiale avec Butée
La mise au point grossière et fine partagé une commande coaxiale, avec une course grossière de 25 mm et une résolution fine de 2 um. Une butée supérieure empeche le contact entre l objectif et l échantillon.
Applications Idéales
Le B-383MET convient aux laboratoires qui examinent des matériaux opaques et reflechissants.
- Analyse de la microstructure des métaux et alliages
- Examen de minerais et de minéraux
- Inspection de ceramiques, polymeres et matériaux composites
- Inspection de semi-conducteurs et de circuits intégrés
- Contrôle qualité industriel et recherche en matériaux
Choisissez le B-383MET si:
- Vous avez besoin de microscopie en lumière réfléchie pour des échantillons opaques
- Vous voulez un éclairage combine transmis et incident sur un seul statif
- Vous avez besoin de filtres polariseur et analyseur pour la métallographie
- Vous examinez des échantillons massifs jusqu à 15 mm de hauteur
Proposition de Valeur Optika
Le Optika B-383MET associe une optique IOS W-PLAN MET sans lamelle à un éclairage X-LED3 combine transmis et incident sur un statif trinoculaire, avec une garantie Optika de 10 ans sur les parties mécaniques et optiques et une garantie à vie sur le X-LED.
Caractéristiques techniques – B-383MET
| Spécification | B-383MET |
|---|---|
| Type | Droit, fonte d aluminium, prisme en verre, traitement anti-fongique |
| Tête | Trinoculaire, Siedentopf, rapport de division 50/50, inclinaison 30 degrés |
| Objectifs | IOS W-PLAN MET 4x, 10x, 20x, 50x, planachromatique, sans lamelle |
| Platine | Double couche, 233×147 mm, sans crémaillère, course 78×54 mm |
| Hauteur maximale d échantillon | 15 mm |
| Condenseur | Abbe N.A. 0.9/1.25, iris, amovible, centrable |
| Éclairage | X-LED3, 3.6 W, transmis et incident, contrôle manuel de la luminosité |
| Filtres lumière incidente | Polariseur et analyseur |
| Mise au point | Coaxiale grossière et fine, course grossière 25 mm, résolution fine 2 um |
| Température de couleur | 6300 K, durée de vie supérieure à 65000 heures |
| Alimentation | Externe, 100-240 Vac 50/60 Hz, sortie 6 Vdc 2.5 A |
| Poids du produit | 8.5 kg |
Options et Accessoires – B-383MET
Le B-383MET est livré en standard avec des objectifs IOS W-PLAN MET 4x, 10x, 20x et 50x. Des objectifs et accessoires supplémentaires étendent le système.
- M-337 objectif IOS W-PLAN MET 4x/0.10
- M-338 objectif IOS W-PLAN MET 10x/0.25
- M-339 objectif IOS W-PLAN MET 20x/0.40
- M-181 kit complet contraste de phase avec objectifs IOS W-PLAN PH
- M-114 adaptateur C-Mount pour capteur 1/2 pouce
- 15104 kit de nettoyage
Microscopes droits métallurgiques Alternatifs

- Type: Métallurgique, trinoculaire
- Grossissement: Jusqu à 500x
- Optique: IOS W-PLAN MET, correction infini
- Éclairage: X-LED8 incident, X-LED3 transmis
- Tête: Trinoculaire, inclinée 30 degrés
€4.558,00 hors TVA

- Type: Métallurgique, trinoculaire
- Grossissement: Jusqu à 500x
- Optique: IOS W-PLAN MET, correction infini
- Éclairage: X-LED8, lumière incidente
- Tête: Trinoculaire, inclinée 30 degrés
€4.389,00 hors TVA


