Optika B-383MET microscope trinoculaire metallurgique, 500x, IOS PLAN MET
€2.249,00 hors TVA
Le Optika B-383MET est un microscope metallurgique trinoculaire pour l analyse d echantillons opaques en lumiere reflechie et transmise. Il est equipe d objectifs IOS W-PLAN MET sans lamelle de 4x a 50x, concus pour les echantillons metallographiques necessitant une observation directe sans lamelle couvre-objet. L eclairage X-LED3 exclusif couvre les trajets lumineux transmis et incident, avec des filtres polariseur et analyseur pour le travail en lumiere incidente. La platine accepte des echantillons jusqu a 15 mm de hauteur. Il convient a la science des materiaux, la metallographie et le controle qualite industriel.
Microscope Metallurgique Trinoculaire pour l Analyse en Lumiere Reflechie et Transmise
Le Optika B-383MET est concu pour observer des echantillons qui restent opaques meme a une epaisseur microscopique, comme les metaux, les minerais, les ceramiques et les polymeres. Il associe des objectifs IOS W-PLAN MET sans lamelle a un eclairage X-LED3 sur les trajets lumineux transmis et incident, avec des filtres polariseur et analyseur pour l analyse en lumiere incidente.
- Objectifs IOS W-PLAN MET concus pour un usage sans lamelle couvre-objet
- Eclairage X-LED3 combine transmis et incident
- Filtres polariseur et analyseur pour la metallographie en lumiere incidente
- La platine accepte des echantillons jusqu a 15 mm de hauteur
- Adapte a la science des materiaux, la metallographie et le controle qualite industriel
Optika B-383MET Microscope Metallurgique Trinoculaire
Le Optika B-383MET est un microscope metallurgique trinoculaire de la serie B-380, concu pour la microscopie en lumiere reflechie d echantillons opaques comme les metaux, les minerais et les ceramiques.
Les objectifs IOS W-PLAN MET sont concus pour un usage sans lamelle couvre-objet, et l eclairage X-LED3 couvre les trajets lumineux transmis et incident.
Objectifs IOS W-PLAN MET Sans Lamelle
La serie d objectifs couvre 4x, 10x, 20x et 50x, specifiquement concue pour la microscopie sans lamelle couvre-objet, ideale pour les echantillons metallographiques et autres echantillons opaques.
Eclairage Combine Transmis et Incident
L eclairage X-LED3 couvre les trajets lumineux transmis et incident avec un controle manuel de la luminosite, et les filtres polariseur et analyseur soutiennent la metallographie en lumiere incidente.
Platine pour Echantillons Metallographiques Massifs
La platine mecanique double couche de 233×147 mm accepte des echantillons jusqu a 15 mm de hauteur, avec une course X-Y de 78×54 mm.
Mise au Point Coaxiale avec Butee
La mise au point grossiere et fine partage une commande coaxiale, avec une course grossiere de 25 mm et une resolution fine de 2 um. Une butee superieure empeche le contact entre l objectif et l echantillon.
Applications Ideales
Le B-383MET convient aux laboratoires qui examinent des materiaux opaques et reflechissants.
- Analyse de la microstructure des metaux et alliages
- Examen de minerais et de mineraux
- Inspection de ceramiques, polymeres et materiaux composites
- Inspection de semi-conducteurs et de circuits integres
- Controle qualite industriel et recherche en materiaux
Choisissez le B-383MET si:
- Vous avez besoin de microscopie en lumiere reflechie pour des echantillons opaques
- Vous voulez un eclairage combine transmis et incident sur un seul statif
- Vous avez besoin de filtres polariseur et analyseur pour la metallographie
- Vous examinez des echantillons massifs jusqu a 15 mm de hauteur
Proposition de Valeur Optika
Le Optika B-383MET associe une optique IOS W-PLAN MET sans lamelle a un eclairage X-LED3 combine transmis et incident sur un statif trinoculaire, avec une garantie Optika de 10 ans sur les parties mecaniques et optiques et une garantie a vie sur le X-LED.
Caracteristiques techniques – B-383MET
| Specification | B-383MET |
|---|---|
| Type | Droit, fonte d aluminium, prisme en verre, traitement anti-fongique |
| Tete | Trinoculaire, Siedentopf, rapport de division 50/50, inclinaison 30 degres |
| Objectifs | IOS W-PLAN MET 4x, 10x, 20x, 50x, planachromatique, sans lamelle |
| Platine | Double couche, 233×147 mm, sans cremaillere, course 78×54 mm |
| Hauteur maximale d echantillon | 15 mm |
| Condenseur | Abbe N.A. 0.9/1.25, iris, amovible, centrable |
| Eclairage | X-LED3, 3.6 W, transmis et incident, controle manuel de la luminosite |
| Filtres lumiere incidente | Polariseur et analyseur |
| Mise au point | Coaxiale grossiere et fine, course grossiere 25 mm, resolution fine 2 um |
| Temperature de couleur | 6300 K, duree de vie superieure a 65000 heures |
| Alimentation | Externe, 100-240 Vac 50/60 Hz, sortie 6 Vdc 2.5 A |
| Poids du produit | 8.5 kg |
Options et Accessoires – B-383MET
Le B-383MET est livre en standard avec des objectifs IOS W-PLAN MET 4x, 10x, 20x et 50x. Des objectifs et accessoires supplementaires etendent le systeme.
- M-337 objectif IOS W-PLAN MET 4x/0.10
- M-338 objectif IOS W-PLAN MET 10x/0.25
- M-339 objectif IOS W-PLAN MET 20x/0.40
- M-181 kit complet contraste de phase avec objectifs IOS W-PLAN PH
- M-114 adaptateur C-Mount pour capteur 1/2 pouce
- 15104 kit de nettoyage
Microscopes droits métallurgiques Alternatifs

- Type: Metallurgique, trinoculaire
- Grossissement: Jusqu a 500x
- Optique: IOS W-PLAN MET, correction infini
- Eclairage: X-LED8 incident, X-LED3 transmis
- Tete: Trinoculaire, inclinee 30 degres
€4.558,00 hors TVA

- Type: Metallurgique, trinoculaire
- Grossissement: Jusqu a 500x
- Optique: IOS W-PLAN MET, correction infini
- Eclairage: X-LED8, lumiere incidente
- Tete: Trinoculaire, inclinee 30 degres
€4.389,00 hors TVA


